本发明公开了一种复合绝缘子缺陷无损检测方法。该方法步骤如下:A)控制扫频微波信号源发出入射信号,被物理探头发射至待测复合绝缘子内,并产生反射信号和透射信号;接收探头收集该三个信号并传送至分析仪进行处理;B)分析仪根据该三个信号的幅值和相位,进行联合计算得到散射参数S;C)如果已经完成一次完整的扫频检测则进入D),否则调整扫频微波信号源的入射信号频率,并返回A);D)完成一次完整的扫频检测后,得到一列散射参数S,绘制频率‑散射参数S曲线;E)根据曲线的变化情况,对待测复合绝缘子的缺陷进行判定和估计。本发明能够根据复合绝缘子散射参数的变化情况,对其状态及缺陷进行精确高效的诊断。
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