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红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法

692   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:49
本发明提供了一种红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法。该方法利用加热装置提供均匀、稳定的热通量加热待测薄膜,加热后的薄膜向外发出红外辐射,红外摄像装置接收辐射信号,并将辐射信号转变成电信号,经后处理装置处理后,将待测薄膜表面的温度分布图显示出来。在某一特定时刻,待测薄膜表面的温度变化的百分比与厚度变化的百分比相等。待测薄膜表面温度无差异就说明薄膜厚度均匀。该方法可以快速、无损检测薄膜厚度均匀性,且无视待测薄膜是否导电、是否透明。可用于锂电池极片、塑料袋的密封检测等。
声明:
“红外热成像快速无损检测薄膜厚度均匀性的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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