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用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法

915   编辑：管理员   来源：中冶有色技术网  
2023-03-19 08:57:41
本发明提供了一种用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法，包括：载物台，用于放置待检物；X轴微调机构，连接在载物台下端，用于沿X轴方向移动载物台；Y轴微调机构，连接在X轴微调机构下端，用于沿Y轴方向移动X轴微调机构从而改变载物台的位置。本发明通过利用微调装置安装在检测系统的旋转台上来对待检物的位置进行微调，使待检物的检测位置尽可能处在检测射线的中心周围，从而有利于在CT系统的投影和重建过程需要满足旋转中心、探测器中心、射线源焦点三者在一条直线上并且垂直于探测器的条件，并快速获得最佳几何放大比，提高CT检查系统的检测精度。
声明：
“用于射线无损检测的微调装置、检测系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
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标签：
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