本申请公开了一种碳
纳米材料空间带电粒子辐射效应表征方法,通过对不同碳纳米材料在不同能量的不同辐照源下的宏观性能和微观性能进行表征,获得碳纳米材料在辐照作用下的退化规律及退化机制。材料受辐照后可能产生的机理主要包括电离损伤和位移损伤两种方式,通过拉曼光谱(Raman)以及扫描电镜(SEM)形貌表征能够一定程度上确定材料内部是否存在位移损伤效应。而通过对材料内部整体C/O比进行定量测试获得该数值与辐照注量的关系能够对材料受电离作用后化学键的断裂情况进行描述,从而确定其电离损伤情况。
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我是此专利(论文)的发明人(作者)