本发明涉及半导体技术领域,本发明实施例提供一种半导体制造设备,包括:工艺区域;供应系统,与工艺区域相连,用于向工艺区域供应化学品,使工艺区域进行预设工艺步骤;检测系统,与供应系统相连,用于检测供应系统的供应状态;主控预警系统,与检测系统和供应系统相连,用于当检测到供应系统的供应状态异常时,发出预警信息并控制供应系统继续向所述工艺区域供应化学品,直至工艺区域完成预设工艺步骤。避免了在当下现有生产模式中,若检测到供应系统供应状态异常时,中止机台功能的设计而造成材料报废的现象,节约制造成本。
声明:
“半导体制造设备及其控制方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)