本发明公开了一种粉末状
半导体材料电导率的测量方法。利用基于栅状电极的电导率测试装置,方法如下:于栅状电极蚀刻槽中,滴加已知标准电导率的标准电解质溶液,通过
电化学工作站测定标准电解质溶液的电阻;计算电池常数;于栅状电极蚀刻槽中,添加待检测粉末状半导体材料,用玻璃压片压严,通过电化学工作站测定待检测粉末状半导体材料的电阻;计算待检测粉末状半导体材料的电导率。本发明原理简单,设备均为实验室常见测试仪器和材料,搭建和测试成本低且简单易行,可测半导体种类多,且测试中对材料无损害可回收,数据处理简便,结果准确。本发明为测量半导体材料电导率提供了新的手段,给科研工作带来了很大的便利。
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