本发明涉及镀锡板的表征检测领域,尤其涉及一种镀锡板钝化膜厚度的测量方法。本发明包括步骤:(1)试样的预处理:(2)确定钝化膜的表面位置:原位氩离子刻蚀和X射线光电子能谱测量交替进行,分析试样刻蚀在镀锡板某深度处的化学组成及含量,当测量到Cr元素、O元素后确定钝化膜的表面位置;(3)刻蚀钝化膜:检测到钝化膜的表面位置后对试样继续刻蚀,直至钝化膜已完全刻蚀完,记录刻蚀时间(t);(4)计算钝化膜厚度:已知标准靶材的刻蚀速度,根据刻蚀速度与靶材的密度成反比,获得钝化膜的刻蚀速度;钝化膜厚度=刻蚀速度×刻蚀时间。本发明能够快速、准确地测量镀锡板钝化膜厚度。
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