本发明公开了一种基于比率法检测DNA
芯片荧光信号的方法。它利用一种荧光物质标记寡核苷酸探针和另一种荧光物质标记目标DNA分子,通过检测DNA芯片上的寡核苷酸探针的点样量、探针固定量(密度)的荧光强度,控制芯片的制作质量;根据寡核苷酸探针荧光强度与目标分子荧光强度的比值,来衡量该点是否有杂交信号,本发明的优点:该方法能够监测芯片表面化学处理是否均匀、固定探针是否均匀,同时解决了由于固定探针数量的变化而导致的荧光信号变化的问题。
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