本发明公开了一种碲镉汞薄膜材料的化学抛光方法。该方法包括以下步骤:利用化学抛光液对所述碲镉汞薄膜材料进行N次化学抛光,其中,第i+1次化学抛光的去除厚度小于第i次化学抛光的去除厚度,其中,N≥3,1≤i≤N;将经过N次化学抛光后的碲镉汞薄膜材料在表面处理液中进行表面处理。借助于本发明的技术方案,解决了现有技术中碲镉汞表面的组分偏差较大的问题,不仅能够降低碲镉汞材料的组分方差,而且使碲镉汞材料的表面极少氧化物甚至无氧化物,从而使碲镉汞探测器器件光谱响应均匀性能够满足性能要求。
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