本发明涉及一种基于集成三电极体系微
芯片的
电化学与电化学发光的检测方法。步骤如下:(1)制作集成三电极的聚甲基丙烯酸基片;(2)制作聚二甲基硅氧烷盖片;(3)微芯片?电化学工作站检测装置。本发明首次将不同材料的微电极集成到了单片PMMA基片上,提高了测试装置的集成度,不需外接电极,便携性好、检测响应速度快,检测精度高,可达1×10?6M,并可以进行调整。测试方法的重复性好,100次以上数据误差小。同时清洗电极简单,可更换PDMS盖片,延长了测试装置的使用寿命、使用聚合物材料进行加工,生化兼容性好,基片透明,可兼容电化学与电化学发光检测,化学试剂消耗量为0.1毫升/次,显著地降低了测试成本。
声明:
“基于集成三电极体系微芯片的电化学与电化学发光检测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)