本发明公开了一种半导体照明产品散热性能检测装置,包括检测装置,所述检测装置包括以下步骤:步骤1:提供待检测设备,置于检测平台上;步骤2:在高温状态下通电30分钟,检测30分钟内待检测设备的温度线性变化斜率K1;步骤3:待步骤2中的待检测设备冷却至常温状态,再次通电30分钟,检测30分钟内待检测设备的温度线性变化斜率K2;步骤4:将K1,K2与阈值范围H比较,超出H范围标记为不合格,不超出H范围标记为合格。所述阈值范围H根据实际待测器件的大小种类具体设定。所述检测平台底部设置温度探测器和控制器,所述温度探测器探测检测平台的温度并发送至控制器,控制器接收温度信息并根据预设的阈值范围H判断。
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