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中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备

750   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:14:54
本申请涉及中子探测领域,提供了一种中子探测器性能检测方法、装置、系统、计算机设备和存储介质。本申请可提高中子探测器性能检测的准确性。该方法包括:通过获取待测中子探测器采集的多个原始脉冲,获取多个原始脉冲的脉冲特征信息,将脉冲特征信息与包含性能判断特征与中子探测器已知性能信息之间的多组映射关系的性能判断特征集进行匹配,获得匹配到的性能判断特征对应的已知性能信息,将该已知性能信息作为待测中子探测器的性能检测结果。
声明:
“中子探测器性能检测方法、装置、系统和计算机设备” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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