本发明公开了一种岩石样品微区圈定系统。本发明包括:偏光显微镜、荧光显微镜、阴极发光显微镜、亮度刺眼的手电筒,以及油性笔、图像处理系统、显微镜载玻片。本发明专用于对岩石样品制样并在微观条件下对目的矿物进行准确圈定,排除手工和肉眼误差,使得测试结果更加精确,且操作简单,对设备要求低,从而在一定程度上克服了国内外目前对碎屑岩胶结物测试手段局限性的问题。同时该系统制作的岩石样品薄片具有便携的优势,可以充分利用多个实验室的仪器设备对样品开展测试分析,不仅降低了人员和时间成本,而且提高了实验测试精度。
声明:
“岩石样品微区圈定系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)