权利要求书： 1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：底座；连接板，所述连接板设于所述底座上，用于与芯片分选机电连接；测试座，设于所述底座上，所述测试座与所述连接板电连接，所述测试座具有用于放置芯片的测试槽。2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：所述测试座包括测试盒和盒盖，所述测试盒与所述连接板电连接，所述测试盒具有所述测试槽，所述盒盖铰接于所述测试盒上，用于开闭所述测试槽。3.如权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于：所述测试座还包括支撑柱和支撑板，所述支撑柱立设于所述底座上，所述支撑板设于所述支撑柱的顶部，所述测试盒设于所述支撑板的顶面。4.如权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于：所述支撑柱设于所述底座的一端，所述连接板设于所述底座的另一端。5.如权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于：所述支撑柱设于所述支撑板底部的一端，所述支撑板设于所述底座的上方，且所述支撑板沿竖直方向的投影位于所述底座沿竖直方向的投影范围内。6.如权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于：所述盒盖具有观察窗。7.一种芯片分选机，其特征在于，包括分选机本体以及如权利要求1?6任一项所述的芯片测试装置，所述分选机本体与所述芯片测试装置并联设置。 说明书： 一种芯片测试装置及包括其的芯片分选机技术领域[0001] 本实用新型涉及芯片技术领域，特别是涉及一种芯片测试装置。背景技术[0002] 随着芯片的应用范围及功能特性的增强，越来越多的芯片被用在航空航天、汽车轮船、工业、以及军事领域。由于芯片属于电子元件的核心部件，保证质量合格的芯片对电子元件非常重要，所以需要对芯片的质量进行检测。[0003] 目前，一般是采用大型的芯片分选机对芯片进行测试。由于芯片分选机通常为包括方向校正模块、测试模块、丝印模块、位置校正模块、光检模块、编带模块等多个模块的复杂装置，常用于整批芯片的测试，在对个别芯片进行测试或对单个芯片进行重复测试时较为不便。实用新型内容[0004] 本实用新型的目的是提供一种可单独测试芯片、测试方便的芯片测试装置。[0005] 为了实现上述目的，本实用新型提供了一种芯片测试装置，其包括：[0006] 底座；[0007] 连接板，所述连接板设于所述底座上，用于与芯片分选机电连接
声明：
“芯片测试装置及包括其的芯片分选机” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究，如用于商业用途，请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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编辑：中冶有色网
来源：广东风华高新科技股份有限公司
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2025年05月23日 ~ 25日 
