本实用新型公开了一种多工位并行芯片分选机智能测试装备用测试电缆，包括多股绞合的缆芯，且绞合的缆芯外设置有第一编织层，所述缆芯包括多股绞合的芯线，且绞合的芯线外设置有第二编织层，所述第二编织层外挤包有护套层，所述芯线包括多股绞合的导体，所述绞合的导体外包覆有微孔发泡绝缘层，且所述第一编织层内每根缆芯的颜色各不相同。通过在尼龙编织层内根据测试需要设置多股绞合的缆芯，利用缆芯结构尺寸小，分布电容≤80pF/m，柔性耐弯折，耐磨，耐油性好的特性，解决了多根信号测试电缆难于穿尼龙编织套管，单根信号测试电缆难于识别的难题，同时提高了生产效率。

本实用新型涉及芯片技术领域，公开了一种芯片测试装置及包括其的芯片分选机，芯片测试装置包括底座、连接板和测试座，连接板设于底座上，用于与芯片分选机电连接，测试座设于底座上，测试座与连接板电连接，测试座具有用于放置芯片的测试槽。基于上述结构，当需要对个别芯片单独测试或者需要对单个芯片重复测试时，将连接板与芯片分选机电连接，将芯片放入测试槽内即可对该芯片进行单独测试，测试较为方便，测试工序简单，测试时长较短，不影响芯片分选机的正常运行和产品的产出。