其他其他有色金属分析检测技术理论与应用

效能侦测装置 752     

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本实用新型公开了一种效能侦测装置，包括速率侦测装置和位移侦测装置，速率侦测装置包括速率传感器和发光二极管，位移侦测装置包括第一位移传感器和第二位移传感器；速率侦测装置位于固定盘和抛光垫整修器的侧面，并对准抛光垫整修器；位移侦测装置位于固定盘的上方，并对准固定盘和抛光垫。本实用新型的优点和有益效果在于：实现了及时发现抛光垫整修器及整修装备的故障或失效，减少抛光垫整修器作虚功，提高生产效率的效果；以及起到了精确掌控抛光垫整修器运转情况及效能，和提早侦错并及时发现问题及了解效能衰退幅度，减少停机检查维修的频率，提高生产效率的作用。

计算机控制的风扇装置可靠性测试系统 1090     

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一种计算机控制的风扇装置可靠性测试系统,通过计算机控制的自动化方式对一组风扇装置进行可靠性测试,试系统至少包括:群组式风扇装置搭接模块、主监控模块、程控电源模块、转速控制信号产生模块以及运转特性检测模块;本发明以计算机控制的自动化方式对一组风扇装置进行可靠性测试,并可同时测量多种运转特性,包括单个风扇装置的消耗电流和所有风扇装置的总消耗电流以及单个风扇装置的风扇失效信号和循环转速信号,且可进而利用计算机自动化方式记录及汇总所有的测试结果资料,使得风扇装置的测试程序更省时省力且具有更高的效率。

测试系统以及半导体元件 847     

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本发明披露了一种测试系统以及半导体元件。该测试系统，用以在晶圆级烧入测试期间检测是否有一或多个联结性失效状况发生于一测试机台和一待测晶圆的传输路径上。依据本发明一实施例，该测试系统包含一探针卡和n个晶片。该探针卡包含m个第一信号接点，用以接收来自该测试机台的m个测试信号；n个第二信号接点，用以提供该测试机台n个测试结果；和一接点阵列。该探针卡借助多个探针与该待测晶圆接触。依此方式，该测试系统可检测是否有一或多个短路或开路发生于该测试机台和该待测晶圆的传输路径上。

用于旋转驱动的线性执行器的角度测量装置 916     

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本发明涉及一种用于旋转地被驱动的线性执行器的、尤其用于离合器执行器的角度测量装置，所述角度测量装置至少具有如下部件：‑具有转子轴线的转子元件，所述转子元件同心设置地与旋转的驱动器的转子一起转动，所述旋转的驱动器用于能轴向运动的线性执行器元件；‑具有极性的第一测量磁体装置，所述第一测量磁体装置相对于转子元件固定，其中极性定向成，使得以从至少一个测量位置中能确定的方式随转子元件的转动而角度单义地改变磁场线；‑处于测量位置之一处的360°传感器，所述360°传感器用于基于测量磁体装置检测角位置；处于测量位置之一处的转数传感器，所述转数传感器用于基于测量磁体装置检测所经过的绝对转数。借助在此提出的角度测量装置，在结构空间需求小的情况下确保防失效地读出静液压离合器执行器的例如主动缸的绝对路径位置。

用于车辆测距的方法和系统、车辆及程序产品 1011     

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本发明涉及车辆领域，具体而言涉及一种用于车辆测距的方法，其包括以下步骤：S1由本车辆的传感器检测目标车辆的车牌；S2基于所检测的车牌成像识别车牌信息并获知车牌尺寸；S3在传感器坐标系中对车牌成像进行校正；S4在传感器坐标系中计算传感器与车牌的距离；S5将传感器坐标系转换成本车辆坐标系；S6在本车辆坐标系的情况下对目标车辆的车牌位置进行建模；和S7基于车牌模型获得本车辆与目标车辆的距离。本发明还涉及一种用于车辆测距的系统、相应车辆及计算机程序产品。通过本发明能在利用现有装置的情况下借助间接测量实现可靠的车辆测距。由此还能实现车辆测距的简单冗余方案，从而在车辆测距装置失效的情况下仍然确保车辆行驶的安全性。

用于在运动的物体上定位测量点的方法 691     

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本发明涉及一种用于相对于物体(5)上位置固定的特征(8)定位测量点(15、18)的方法，所述物体(5)沿移位路径移动。构成有第一和第二光学检测区(10、11)，通过所述光学检测区确定所述特征(8)的当前实际位置。所述两个光学检测区(10、11)设置在彼此重叠的位置中，从而构成重叠部段(13)。所述测量点(15、18)分别设置成与所述特征(8)隔开预先确定的固定的距离(16、19)。如果所述特征(8)处于第一光学检测区(10)之内，则在已定位的第一测量点(15)处进行测量。如果所述特征(8)处于重叠部段(13)之内，则使第一测量点(15)失效并激活第二测量点(18)，并且执行测量。

直径测量装置 691     

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一种检测可能失效的吸入罐阀(30)的方法,其中阀(30)通过箍圈卷边(80)联接到罐(10),包括如下步骤:将罐(10)放置在罐夹具(220)中,罐夹具(220)将罐(10)保持在相对于直径测量装置(230)预定的测量高度位置处;在预定高度位置处测量箍圈卷边(80)的直径;比较测得的卷边直径与预定的合格区间,如果测得的直径不在预定区间范围内,表示吸入罐阀(30)可能失效。还提供一种卷边直径测量装置(200),包括:基座(210);由基座(210)支撑的直径测量装置(230);和由基座(210)支撑的罐夹具(220),所述罐夹具(220)布置成将罐(10)保持在相对于直径测量装置(230)预定的测量高度位置处。

测量水温的传感器 981     

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本发明提供了一种测量水温的传感器,其中通过将借助电线与引线连接的水温检测传感器与填充材料一起固定地装在水温检测部分中,水温检测部分形成在管形体的前部,与水温检测传感器相连的引线以Z形或以螺纹形布置并缠绕在形成于外壳后部的引线插入空间中,以使长度很长的引线插入外壳中,从而能够完全防止温度检测传感器接触水分,并且能通过引线将传递到温度检测传感器上的外部温度延迟一段时间间隔,从而外部温度不能直接影响温度检测传感器,并能将由于各种原因导致的温度检测传感器的失效减小到最低程度,并能由于温度检测传感器的工作而提供水温的彻底检测,并能保证一些装置的有效利用,这些装置具有必须精确执行水温测量和控制的过程,例如各种实验装置或热交换器。

控制阀压力泄放观测端口 787     

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一种阀门,具有用来在使阀门的阀帽(16)从它与阀体(12)的接合状态下分开之前释放内压的一整体部件。该整体部件具有一贯穿阀体的孔道(20)。这使得该阀门的内压在使阀帽与阀体完全拆卸开之前与大气压平衡。通过提供用于流体在阀帽和阀体之间的密封失效情况下穿过阀门泄漏到阀体外面的通道,贯穿阀体的孔道还用作泄漏检测器,经过者可以很容易地在观察位于阀体外面的孔道的暴露端时发现流体穿过阀门泄漏到阀体外面的现象。

微电子装置测试以及相关装置、系统和方法 1165     

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本文中描述微电子装置测试以及相关方法、装置和系统。装置可包含存储器阵列，所述存储器阵列包含某一数目的行和某一数目的列。所述存储器装置可进一步包含耦合到所述存储器阵列的电路。所述电路可经配置以对所述数目的行中的每一行执行测试操作以检测：所述数目的行中的第一行的第一失效；以及与所述数目的行的行集合相关联的额外失效集合。所述电路还可经配置以确定所述行集合是否邻近于所述第一行。此外，响应于确定所述行集合邻近于所述第一行，所述电路可经配置以产生指示所述数目的列中的列的失效的信号。

就地清洗系统和密封性监测 865     

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在此提供一种用于检测一个传送机部件内的密封区域的密封失效的装置和方法。一条流体管线延伸出该密封区域中并且一个传感器被连接到该流体管线上。一个阀被连接到该传感器后面，并且一个流体泵被连接到该阀后面。一个控制器被连接到该传感器、该阀以及该流体泵上。该传感器是在该密封区域的外部并且该阀是一个电磁阀。该密封区域是在一个空转皮带轮内，该空转皮带轮具有一个滚筒壳体、一个附连在该滚筒壳体的轴向端处的端盖和一个轴。该密封区域可以包含在一个机动化滚筒或一个中空传送机框架结构内。一种方法通过形成由一个表面和一个密封件界定的一个密封区域并且改变流体压力来检测密封失效，其中对流体压力的时间变化速率进行监测。

半导体芯片及其预烧测试方法 839     

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本公开提供一种半导体芯片及其预烧测试方法。另本公开执行一种预测试，预测试在预烧测试之前的预测试阶段期间检查插口的每一电接触件与半导体芯片的对应引脚之间的电连接。每一个电接触件与每一个引脚之间的电连接通过多个信号通道来检查。即使在信号通道中的一个失效时，只要信号通道中的另一个通过预测试，就仍可执行预测试和预烧测试。另外，通过多个信号通道的预测试阶段还提供信息，以用于确定半导体芯片的失效是否由预烧板的插口之间的电连接或由半导体芯片自身所导致。

用于存储设备的预测定时校准 706     

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本发明提供了一种使用 2N位同步模式的独特方法，从而 可在存储系统中获得较快且较可靠的多数据通道的校准。如果 2N位同步模式是用已知的时钟 相位关系获得的，则可使用简单的解码逻辑来判定数据－时钟 相位的对准，从而从刚检测到的m位预测下一个m位。如果 接下来的m位模式不与预测的模式匹配，则在所进行的对准的 数据通道中对特定延迟值调节，当前的数据－时钟对准就失 败，且在该数据通道中的延迟被调整为新值。本发明也通过强 行使与不想要时钟信号沿，比如负向沿有关的所有预测的m位 模式失效从而保证了数据对准将发生在时钟信号的想要沿，比 如，正向沿上。

使用线性反馈移位寄存器在存储器内建自测试环境中的故障诊断 1081     

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本发明所公开内容为在存储器内建自测试环境中对失败的存储器测试的测试响应标记进行暂时压缩的方法和器件,其目的是即使在检测到多个与时间相关的存储器测试故障时也能够进行存储器内建自测试操作。在本发明的一些实施例中,被压缩的测试响应标记在自动化测试设备器件上与存储器位置信息一起给出。根据本发明的各种实施例,带有嵌入式存储器(204)的集成电路以及存储器BIST控制器(206)还包括用作标记寄存器的线性反馈结构(410),可在存储器测试的某一测试步骤中对来自嵌入式存储器阵列的测试响应标记进行暂时压缩。在各种实施例申,集成电路还可能包括失效字计数器(211)、失效列指示器(213)和/或失效行指示器(214),用以对失败的测试响应收集存储器位置信息。

用于预测发动机及其部件的剩余使用寿命的方法 958     

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一种用于预测具有部件（18、19、22、23）的发动机（10）的剩余使用寿命的方法，所述部件由传感器（50）检测，该传感器（50）产生指示所述部件的运行状况的电子数据信号，该方法包括：识别（52）一个或多个部件并识别每个部件的限制所述部件和发动机的运行寿命的至少一种失效模式。该方法还包括：获得（62）并存储有关所述部件的与所识别失效模式关联的现有运行状况的数据；以及接着基于有关所述部件的现有运行状况的数据、有关与失效模式相关联的运行状况的历史数据、以及所预测的失效模式速率，确定（68）所述部件的剩余使用寿命。

监测元件和结构的完整性的方法和装置 709     

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为监测置于包含处于环境压力下的流体(F)的环境中结构(10)的完整性提供一种方法和装置。结构(10)包括外壳(12)和多个内腔(14)。该方法包括:施加另一流体至腔体(14),施加的流体处于稍大于大气环境压力(F)的压力下。监测施加的流体的流率,来检测流率的变化。流率的变化表明了通过结构(10)的额外流体渗漏,从而提供了结构(10)的完整性失效的高级报警。通过使施加的流体流过高流量阻件(28)和用转换器(30)监测阻件(28)两端压力的变化,可实现监测功能。

电子镇流器的灯寿命终止单点感测、防电弧放电和空载保护 884     

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披露了系统和方法,所述系统和方法有利于感测灯处于寿命终止(EOL)阶段时或者灯经历例如灯与其支座之间的触点受损时可能出现的电弧放电传导情形时灯用镇流器中的脉冲。通过感测脉冲,微控制器可基于检测到的脉冲宽度区分EOL和电弧放电情形,并可起动适当的响应。例如,如果脉冲由电弧放电现象引起,则微控制器可在重启灯之前短时中断灯的工作,以减少电弧放电情形。如果脉冲由EOL情形引起,则微控制器可将灯置于预热或重启模式以加速灯的失效。在任一情况下,对感测脉冲的响应均减少可破坏灯座的危险高灯温的出现。

用于照明元件测试的故障保护电流源 840     

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提供了一种故障保护电流源，其可以用来在可靠性测试系统中安全驱动地LED。该电流源包括检测在LED可靠性测试系统中发现的常见故障的电路和过程。在检测到故障之后，该电流源在破坏性尖峰产生之前关闭驱动器。因为仅将真实LED失效计数，所以该故障保护电流源可以用来构造产生更准确的可靠性测试数据的可靠性测试系统。

流体状态监测器 966     

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本发明是一种小型设备和在工作设备中以有效方式直接监测工作流体状态和液面高度的方法。提供一种包括多个液体传感器和多个蒸汽传感器的传感器装置,在不同温度下互相结合使用时,可以全面评价流体的氧化降级,液体污染和固体污染以检测流体使用寿命的终结。通过在相同传感器装置上提供液体传感器和蒸汽传感器,本发明能够以小型、有效和经济可行的方式监测流体的状态以及在其他元件损坏和最终设备失效之前检测非正常的工作状态。

健康监测系统的帮助诊断和维护方法与机构 828     

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本发明涉及健康监测网络的系统和方法,其利用对动态注册传感器数据流的实时故障检查来自动检测故障或失效传感器。监测系统和传感器网络可以提供单触式系统来在传感器需要注意时通知用户,而无需事先了解网络中的传感器的操作特性、安装方法或配置。网络利用决策引擎根据基于个人偏好和能力的简档帮助维护。

用于加热和烹调装置的温度测量电路 1139     

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一种温度测量电路,通过分支电阻将一个温度传感器,比如热敏电阻,连接到一个基准电压源,比较装置把所述传感器连接点的电压与规定的电压作比较,以检测所述温度传感器所检测的值,经过简化的电路能够检测出所述的温度传感器的失效,比如传感器的断裂或烧断。

测试装置 712     

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本发明提供一种以高效率管理测试结果为目的的测试装置,该测试装置包括:测试被测试存储器的各单元的测试部;对应被测试存储器的各单元,在失效存储器中保存表示该单元好坏的失效信息的失效信息保存部;对被测试存储器具有的每个块,计数在该块内中被检测出的不良单元的数目的计数部;块接收要求读出块所包含的各单元的失效信息的读出要求接收部;将读出目标块内的不良单元的数和预先被确定的基准数进行比较的比较部;把读出目标块内的不良单元的数超过基准数作为条件,为了对读出要求回信,将包含读出目标块内的各单元的失效信息的回信数据列中,连续的复数的失效信息转换成表示品质不良的值的变换部;以及回信数据列压缩后回信的压缩部。

将波束恢复测量优先于其他测量 1136     

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根据第一实施方式，一种方法可以包括由用户设备确定波束失效实例的数目大于或等于至少一个阈值。该方法可进一步包括由用户设备发起对至少一个波束候选集的至少一个测量。该方法可进一步包括由用户设备暂停由用户设备执行的非波束候选测量。

用于监测集成电路上金属退化的电路 1045     

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本发明涉及用于监测集成电路上金属退化的电路。一种集成电路(IC)，具有诸如功率MOSFET的热发生元件、耦合到热发生元件的载流导体、邻近载流导体的感测导体以及耦合到感测导体的失效检测电路。当IC的热循环导致感测导体的电阻变得大于依赖于温度的阈值时，失效检测电路生成信号，该信号指示集成电路将不久失效。由通过将电流注入到感测导体中以生成电压来确定感测导体的电阻。依赖于温度的阈值是通过将电流注入到被布置得远离载流和感测导体的参考导体中所生成的电压。电压比较器比校两个电压以生成输出。替代地，失效检测电路包括处理器，该处理器从在集成电路上采取的温度测量计算依赖于温度的阈值。

用于监测硬盘的健康状况的方法和装置 779     

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本发明的各种实施例提供了一种用于监测硬盘健康状况的方法和装置。该方法包括获取与硬盘相关联的全维度特征，其中全维度特征包括以下各项中的至少两项：硬盘性能信息、数据完整性信息、输入／输出I／O正确性信息、以及硬盘的自动监视分析和报告技术S.M.A.R.T.报告。该方法还包括基于全维度特征确定硬盘的健康状况。在本发明的实施例中，根据反映硬盘的多方面状况的全维度特征对硬盘的健康状况进行评估，可以降低对硬盘的健康状况的误判率，从而使得硬盘更换次数降低、更换成本降低，并且还将会能够及时发现存储系统中实际失效的其他部件。

具有改良式压柱的测试座及其测试系统 927     

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本发明公开了一种具有改良式压柱的测试座及其测试系统，测试座包括：一吸测盘、一套衬座、及一基座。吸测盘具有多个压柱，每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部；套衬座上具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室，多个容纳室对应多个压柱而设置；基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。其中，吸测盘的每一压柱分别置入套设于套衬座的每一容纳室。由此，可避免在吸取移动及压测待测传感器时，造成待测传感器的感应元件，产生测试失效等问题。

半导体存储装置及检查方法 997     

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提供一种半导体存储装置,具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种:对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21),对由特定的行地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40),对由特定的列地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。

内建自行测试系统及方法 795     

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外部测试装置系被使用以仿造一内部BIST测试,因此使获取或产生详细测试结果为可能。通过在测试时间实时仿真BIST测试序列,外部测试器可能监控自BIST之一输出且决定失败发生的确实位置。外部测试器可能产生一位失败映像指示是否每一内存位置通过或未通过BIST测试。

超声探头换能器测试 1001     

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通过在其透镜与空气接触的情况下操作探头来针对其阵列换能器的元件的失效对超声探头进行测试。在该操作模式期间产生的回波信号被波束形成为由所述探头产生的扫描线的常见集合。每条扫描线的频率响应被分析，并且和与测试中的所述探头相同类型的已知好探头的对应扫描线的频率响应的参考信号进行比较。如果比较披露方差大于预定的偏差，那么警告用户所述探头应当被更换。

机器剩余使用寿命的预测方法 1022     

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一种基于时间——特征值的数据记录对机器的剩余使用寿命进行预测的方法，包含以下步骤：步骤1)采用回归分析法拟合出反映时间与特征值之间变量关系的机器寿命曲线的数学模型，并根据所述模型计算出寿命曲线到达预设的失效阈值所需的时间，即预期剩余使用寿命；以及步骤2)、以随机缺省部分数据的方式重复执行上述步骤1，并根据重复执行的结果统计出预期剩余使用寿命的概率分布，其中最大概率分布处所对应的剩余使用寿命被确定为机器最有可能的预期剩余使用寿命。上述方法避免了以单一寿命曲线模型预测机器剩余使用寿命的偏执性，能够显著提高机器预测的可靠性和准确性。