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HW-ISD2200nm红外半导体激光器是一款高功率稳定性的先进材料测试仪器，输出功率在0到最大值之间连续可调，具备线偏振和TE00模特性。它采用原装进口激光二极管，确保工作性能可靠和激光器寿命长，适合长时间连续工作。该激光器配备过热和限流保护电路，以及TEC和激光头风扇制冷系统，支持外接信号发生器进行高速调制（TTL和模拟调制）。广泛应用于荧光激发、光谱分析、细胞肿瘤照射、医疗分析和光电检测等实验领域。
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JX-HEM100型教学电性能综合测试仪JX-HEM100型教学电性能综合测试仪是一款专门应用于霍尔效应测试的教学仪器，采用触摸屏设计，功能特点：运用范德堡法测试，可用于测试教学样品的霍尔系数、载流子浓度、载流子迁移率等；是高校教学中的重要仪器。
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N5636是一款多声源阵列测试声场分布的手持式工业工业声波成像仪，应用于捕获、定位和分析带压气体管路及设备（含负压系统）的气体泄漏、工业声学异响、电气设备局部放电等场景。
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SPECTROTEST移动式直读光谱仪是一款高性能的便携式光谱分析设备，具备全数字等离子体光源和可控激发参数，确保高精度和稳定性。其光学系统采用氩气吹扫，内部正压设计，不受外界环境影响，配备16块高分辨率CCD接收器，可直接精确分析碳元素（0.01%-5.4%）及多种其他元素。设备具有独创的ICAL标准化功能，简化操作流程，节省时间和成本。采用Windows 7操作系统，配备英特尔Atom处理器和高分辨率显示器，支持多种接口。
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当手持光谱不能解决全部问题，SPECTRO PORT移动式火花直读光谱仪将提供一种更完美的选择，采用发射光谱仪技术，同时又像手持光谱一样操作方便，对于现场金属材料检测来说，SPECTROPORT带来了一场革命。SPECTROPORT具有现场金属材料分析的旗舰仪器SPECTROTEST的许多特点，同时体积更小，重量更轻。她可以准确分析碳、磷、硫、硼、锂、铍、钙、硅、镁和铝等元素，即使在低水平或临界水平，最多只需10秒。。对于许多检测任务来说，SPECTROPORT又像手持光谱一样，分析速度很快。
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超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可满足陶瓷基板、IGBT、水冷散热器、电池、半导体、电器焊接件、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等产品质控需求。
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超声扫描显微镜（SAT）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可满足陶瓷基板、IGBT、水冷散热器、电池、半导体、电器焊接件、金刚石复合材料、碳纤维复合材料等产品质控需求。
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超声扫描显微镜（SAM）是一种利用超声波为传播媒介的无损检测成像设备，主要利用高频超声波，对各类半导体器件、材料进行检测，能够检测出样品内部的气孔、裂纹、夹杂和分层等缺陷，并以图形的方式直观展示。在扫描过程中，不会对样品造成损伤，不会影响样品性能，可满足陶瓷基板、IGBT、水冷散热器、半导体、电器焊接件、碳纤维复合材料等产品质控需求。
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Discovery 激光闪光导热仪 DLF 2800 是先进的独立平台，用于测量材料在高温下的热扩散系数和比热容，温度范围从室温直至 2800°C。独特的设计融合了专有的激光器、激光光学元件、检测器和加热炉技术，兼具独特的多位置样品转盘，确保删除的测量精度和高效率。导热仪可以在不同气氛条件如 空气、真空、惰性气氛下工作，可以表征 广泛的材料种类，包括高分子、陶瓷、碳素材料、玻璃、金属和合金以及各种复合材料.
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样品可自由膨胀/收缩，不受机械接触引起的干扰。这可确保更精确地测定样品在加热/冷却时以及在某些检测事件的特定温度处的行为。另外，由于未与测量系统接触，不会对样品造成影响，使得分析范围从软化点扩展到了熔化状态，并且还能够分析其他方法无法测试的软样品。高分辨率 CCD 摄像机架每秒可拍摄多达 14 张样品图像，能帮助极度精密的图像分析软件自动测定特征外形和特征温度，用于优化陶瓷生产和金属加工行业的工艺参数以及发电厂的燃烧参数。
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所有膨胀仪测量系统中的材料均处于稳定状态，但部分材料仍发生显著的尺寸变化。上述情况在相关方法涉及的加热或冷却温度范围较大时尤为明显，这些材料可能发生与样品等效的尺寸变化。为了确保精确度，良好的实验室测量需要使用与样品属性、形状及尺寸相似度较高的参考材料，基于每款温度程序执行仪器校准。然而，对于有助于曲线精确度校准的不同变量而言，其数量可能随时间产生显著的重复性误差，进而影响测量精确度。
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同步热分析仪（SDT）是一种先进的热分析设备，能够同时提供差示扫描量热（DSC）和热重分析（TGA）数据，实现对材料在加热或冷却过程中的热流和重量变化的实时同步测量。TA Instruments的Discovery SDT 650是该领域的领先产品，具备超低漂移平衡设计，提供卓越的基线平直度、灵敏度和分辨率。它支持Modulated DSC®（MDSC®）技术，可精确测定热容，以及Hi-Res™ TGA和Modulated TGA™（MTGA™）技术，用于高效分离重叠的重量损失和提高动力学研究的效率。该设备配备稳定的线性自动进样器，可编程设定托盘位置，实现全天候运行。
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热重分析仪 (TGA) 测量重量（损失或增加）和重量变化率随温度、时间和环境的变化。热重数据对于为差示扫描量热法开发设置适当的温度限值至关重要。其他常见用途包括材料的热稳定性和氧化稳定性、水分和挥发物含量、多组分材料的组成、产品的分解动力学和估计寿命，以及反应性或腐蚀性环境的影响。
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