发现Thermo Scientific™ Niton™ Apollo™ 手持式 LIBS分析仪。设计帮助您克服棘手的分析挑战,Niton Apollo 是专门测量碳含量的实用、便携式设备。在激光诱导击穿光谱 (LIBS) 的驱动下,Niton Apollo 提供了非常快的速度、行业内较高水平的性能,提高了生产效率。它将实验室分析方法带到现场并带来了巨大可能性。
XNDT-101主要由X射线源、线阵探测器、传动系统和主机电脑组成,实现对铸造件内部缺陷的在线检测。
XNDT-102便携式成像系统由1个探测器盒、1台便携式射线源和1台笔记本电脑组成,可用于公共安全场合的包裹安全检查、工业无损检测等。
XNDT-103主要由X射线源、线阵探测器、传动系统和主机电脑组成,并提供一组继电器输出信号,用于剔除不合格产品。广泛用于食品、服装、鞋类、再生资源回收等行业的异物检测。
LPRO-90放射性料位计提高了非接触式料位测量系统的标准。这个简单、可靠、非插入式的测量系统可用于监测和控制各种反应器、容器和料仓中液体、泥浆和固体的料位或分界面。测量不受容器的大小、形状影响,也不受高温、高压或真空、腐蚀、磨损、蒸汽和灰尘的影响。由于使用了高灵敏度的闪烁探测器,加上专业技术人员详尽准确的设计,在保证使用人员安全的前提下,实现料位稳定、持续、可靠的测量。
JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200KV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。
岛津UV-3600是世界领先的高性能的紫外可见近红外分光光度计,性能卓越。紫外可见分光光度计是每个化学分析实验室必备的常用仪器设备之一,在各种定量和定性分析中得到了广泛的应用。岛津的紫外可见分光光度计产品线非常丰富,从最普通的单光束分光光度计到测量范围可以扩展到深紫外、近红外区域的UV-VIS-NIR分光光度计。
XRADIA CONTEXT MICROCT,是一款大观察视野、无损 3D X射线微焦点计算断层扫描系统。可满足多种 3D 表征和检测需求的成像解决方案,不仅能够在3D全景中展示完整大样品的内部细节,还能针对小样品使用大的几何放大倍数实现高分辨率和高衬度成像观察细节特征。XRADIA CONTEXT 建立在历经考验的蔡司XRADIA平台之上,图像质量、稳定性和易用性均属上乘,且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。
日本电子 JXA-8230电子探针显微镜分析仪可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
ZETASIZER NANO ZS90 ZETA电位分析仪是一款高性价比的分子/粒度和ZETA电位分析仪。使用动态光散射以90度散射角测量颗粒和分子粒度,具有使用激光多普勒微电泳测量ZETA电位和电泳迁移率的能力,以及使用静态光散射测量分子量。动态光散射检测由于颗粒布朗运动而产生的散射光的波动随时间的变化。检测器将散射光信号转化为电流信号,再通过数字相关器的运算处理,得到颗粒在溶液中扩散的速度信息,即扩散系数。通过STOCKES-EINSTEIN方程可以得到粒径大小及其分布。
蔡司双束电镜CROSSBEAM系列,是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。CROSSBEAM系列将场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)镜筒强大的成像和分析性能与全新一代聚焦离子束(FIB)出色的加工能力相结合。无论是加工、成像或进行3D分析,都能在不损失精度的前提下,提高聚焦离子束的应用效率。
日立场发射扫描电子显微镜SU8020采用日立技术公司全新开发的冷场电子枪,实现超高分辨率下观察的同时,稳定的束流亦可满足长时间下的分析需求。是利用二次电子和背散射电子信号,通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器。
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