本发明提供一种航天用集成电路极限应力强度的快速评价方法。所述方法包括:温度步进应力试验、快速温变应力试验、振动步进应力试验、温度和振动综合应力试验。所有试验的整个过程中均对待评价样品的功能进行测试,并记录故障现象。在对待评价样品施加温度或振动应力的同时还可以施加其它特殊应力,如电应力。本发明通过施加一系列组合试验,减少了产品失效时间,从而将原需花费六个月至一年的评价试验,减少至仅需一周时间即可完成;本发明通过热、力、电应力组合试验,形成叠加或协调效应,大幅提高了评价试验的完整性、和准确性。前期多次验证结果表明,试验评价中发现的产品故障模式覆盖率可以达到98%以上。
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