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应用于反熔丝FPGA老炼筛选技术

1069   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:05:34
本发明属于集成电路领域,涉及一种应用于反熔丝FPGA的老炼筛选技术。包括:交叉反熔丝正偏应力测试;反偏反熔丝反偏应力测试;老炼运行状态IO波形监测;反熔丝FPGA动态老炼时序。通过老炼技术,能使原有产品中存在的缺陷尽可能多的提前显现出来,并剔除失效产品,进而提高电子产品可靠性,降低故障率。
声明:
“应用于反熔丝FPGA老炼筛选技术” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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