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利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法

1090   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:05:34
本发明涉及一种利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法,包括以下步骤:建立IGBT功率模块的电‑热耦合模型;通过实验方法获取IGBT功率模块的壳温数据;建立IGBT壳温预测老化状态的极限学习机模型,实现评估IGBT功率模块老化状态的功能。本发明设计合理,其利用IGBT壳温便于测量以及壳温可以反映IGBT老化状态的特点,在评估过程中,充分考虑IGBT老化的影响,通过电‑热耦合模型能够更加准确地获得全新功率模块中IGBT功率损耗和壳温的变化情况,从而利用壳温评估IGBT的老化状态,本发明无需测量结温即可确定模块的老化状态,从而避免疲劳失效造成的损坏,提高电力电子设备运行的可靠性。
声明:
“利用壳温评估IGBT功率模块老化状态的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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