合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 芯片布线方法、芯片布线装置、电子设备及存储介质

芯片布线方法、芯片布线装置、电子设备及存储介质

721   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:02:33
本发明涉及一种芯片布线方法、芯片布线装置、电子设备及存储介质,芯片布线方法包括基于初始布线状态报告中走线的布线参数,调整相邻走线之间的布线间距,生成预测布线状态报告;布线参数包括布线密度、走线类型和对应的经验缺陷尺寸分布中至少一种;基于预测布线状态报告对芯片进行布线设计。本发明解决了现有技术无法很好控制芯片缺陷引起芯片失效概率高的技术问题,本发明通过后端物理实现的方法来减少缺陷defect落在芯片走线上或是走线之间引起芯片失效的概率。
声明:
“芯片布线方法、芯片布线装置、电子设备及存储介质” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记