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对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法

700   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:02:33
本发明公开一种对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法,属于CMOS集成电路技术领域。通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验,剔除校验失败的芯片;对一次可编程存储器芯片进行空片检查,剔除检查失败的芯片;通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验,剔除校验失败的芯片;再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查,剔除检查失败的芯片;对一次可编程存储器芯片进行动态老炼,诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效;进行全片读取校验,剔除发生错误的芯片。本发明提供的方法可以有效剔除有工艺缺陷或参数不达标的芯片,具有很高的应用价值。
声明:
“对一次可编程存储器芯片进行筛选的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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