本发明公开一种对一次可编程存储器
芯片进行筛选的方法,属于CMOS集成电路技术领域。通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余行进行编程并校验,剔除校验失败的芯片;对一次可编程存储器芯片进行空片检查,剔除检查失败的芯片;通过编程器对一次可编程存储器芯片的冗余列进行编程并校验,剔除校验失败的芯片;再次对一次可编程存储器芯片进行空片检查,剔除检查失败的芯片;对一次可编程存储器芯片进行动态老炼,诱导有潜在缺陷的芯片发生早期失效;进行全片读取校验,剔除发生错误的芯片。本发明提供的方法可以有效剔除有工艺缺陷或参数不达标的芯片,具有很高的应用价值。
声明:
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