一种存储器件,其包括存储单元阵列和控制电路,其中,存储单元阵列包括包含第一失效块的正常区域以及包含替换第一失效块的第一冗余块的冗余区域。控制电路包括存储替换信息的映射表。控制电路参考映射表以用于访问第一冗余块。当测试存储器件时,控制电路将“1”写入正常区域和第一冗余块中,将“0”写入除了第一冗余块之外的冗余区域中,将关于第二失效块和冗余区域中的第二冗余块的替换信息写入到映射表,以及关于被指派到地址信号的整个范围来基于从存储单元阵列所读取的整个数据验证采用第二冗余块替换第二失效块的结果。
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