本发明公开了对高速数据存储器进行试验的方法及系统,其中,该方法包括:设置环境试验箱的环境参数,将高速数据存储器置于环境试验箱所提供的环境内;设定待测试的性能指标以及各性能指标对应的失效阈值;运行高速数据存储器,获取待测试的性能指标对应的性能数值;判断性能数值达到相应的失效阈值之前是否收到上报的故障信息,如果是,则将故障时环境试验箱的环境参数作为高速数据存储器的环境极限值;否则将到达失效阈值时环境试验箱的环境参数作为高速数据存储器的环境极限值。本发明方案能够实现对高速数据存储器的环境极限值进行测试,以获知存储器与运行环境之间的关系。
声明:
“对高速数据存储器进行试验的方法及系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)