合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 原子力纳米探针样品标记方法以及集成电路制造方法

原子力纳米探针样品标记方法以及集成电路制造方法

831   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:44
本发明提供了一种原子力纳米探针样品标记方法以及集成电路制造方法。根据本发明的原子力纳米探针样品标记方法包括:失效点查找步骤,用于采用聚焦离子束在原子力纳米探针样品内找到失效点;失效点标记步骤,用于在失效点相距不大于特定距离的范围内用聚焦离子束进行标记;标记填充步骤,用于采用聚焦离子束在所述标记中填入填充材质;以及待测试层研磨步骤,用于采用研磨装置对原子力纳米探针样品进行研磨,以去除待测试层之上的所有层的至少一部分。根据本发明的原子力纳米探针样品标记方法使得被标记区域的高度差能被有效控制,从而利于测试。
声明:
“原子力纳米探针样品标记方法以及集成电路制造方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记