合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 半导体存储器件及其操作方法

半导体存储器件及其操作方法

798   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:43
根据本发明的一个方面,一种操作半导体存储器件的方法包括以下步骤:执行包括编程操作和编程验证操作的编程循环,以便在选中的存储器单元中储存输入数据;执行第一错误比特检查操作,用于将数据的与输入数据不同的错误比特的数量与可纠正的错误比特的数量进行比较;如果错误比特的数量等于或小于可纠正错误比特的数量,则执行第二错误检查操作,所述第二错误检查操作用于将错误比特的数量与用于替换确定的比特的参考数量进行比较;以及如果错误比特的数量大于用于替换确定的比特的参考数量,则通过将具有错误比特的存储器单元的列地址加到失效列地址信息中来更新失效列地址信息。
声明:
“半导体存储器件及其操作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记