本申请提供了一种修复存储
芯片的方法和装置,涉及计算机领域。该方法包括:获取芯片的自检参数,并根据自检参数对芯片进行修复操作,其中,自检参数包括温度和失效信息,失效信息又包括失效数据单元的地址和失效数据单元的检错信息。通过根据自检参数对芯片进行相应的修复操作,能够更好地发挥修复作用,提高修复效果,从而提高芯片的健壮性。
声明:
“修复存储芯片的方法和装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)