本发明公开了一种利用对称性双向划片的单台面高压可控硅
芯片,包括N‑型长基区正面的P型短基区与N+型发射区连接成一体,N‑型长基区背面的背面P型短基区通过P型对通隔离环与正面P型短基区相连。制造方法:硅片检验、生长氧化膜、光刻隔离窗、隔离划片、双面注入铝、隔离扩散、双面注入硼、双面注入铝、P型短基区扩散、光刻发射区、发射区磷扩散、光刻钝化槽、钝化槽腐蚀、钝化槽保护、光刻引线区、双面蒸发电极、光刻反刻区、合金、测试、划切。本发明解决了焊锡膏焊接时因溢料导致成品管的电压失效问题;解决了因树脂填充不完全出现成品管内部空气击穿问题;解决了因采用厚片而出现的不衔接,不受控等问题,提高了生产效率和良品率。
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“利用对称性双向划片的单台面高压可控硅芯片和制造方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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