合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 封装芯片开盖装置

封装芯片开盖装置

889   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:24
本实用新型提出一种封装芯片开盖装置,包括平底钻头及开盖机台。平底钻头设置在开盖机台上,且该平底钻头的底面尺寸与芯片的尺寸相对应。开盖机台又进一步包括一固定架、多个垫片以及一酸蚀腔,垫片以芯片为中心相互围绕,并在中间形成用于注入以及排放药剂的该酸蚀腔,该固定架设置在该垫片的上端,芯片倒置固定在该固定架中。采用本实用新型可以有效地控制封装芯片的开盖位置,不仅降低了成本,更提高了芯片失效分析的准确性。
声明:
“封装芯片开盖装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记