本发明提供一种平面TEM样品的制作方法,包括:提供TEM样品,所述TEM样品上具有目标区域;对所述TEM样品进行平面研磨至金属互连层;对所述TEM样品进行截面研磨至TEM样品的边缘距离目标区域2-10微米;采用第一溶液去除金属互连层中的金属线,在所述金属互连层从中形成孔洞;采用第二溶液去除所述孔洞下方的源漏掺杂区域;使用FIB方法对所述TEM样品进行制作,形成平面TEM样品,所述平面TEM样品露出孔洞下方的源漏掺杂区域用于失效分析。本发明能够解决平面TEM上无法观察源漏掺杂区域的难题。
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