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针对SRAM型FPGA的逐位翻转故障注入方法

762   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:01:10
本发明公开了一种针对SRAM型FPGA的逐位翻转故障注入方法,通过检测电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位位置,得到动态翻转截面和失效率,绘出可靠度变化曲线,从而可以对电路设计空间应用的可靠度进行评测。方法包括,步骤一:初始配置;步骤二:翻转比特位;步骤三:判断是否产生错误;步骤四:判断是否完成测试;步骤五:获取FPGA的动态翻转截面和可靠度变化曲线。
声明:
“针对SRAM型FPGA的逐位翻转故障注入方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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