本发明公开了一种针对SRAM型FPGA的逐位翻转故障注入方法,通过检测电路设计配置存储单元中的单粒子翻转敏感位位置,得到动态翻转截面和失效率,绘出可靠度变化曲线,从而可以对电路设计空间应用的可靠度进行评测。方法包括,步骤一:初始配置;步骤二:翻转比特位;步骤三:判断是否产生错误;步骤四:判断是否完成测试;步骤五:获取FPGA的动态翻转截面和可靠度变化曲线。
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