本发明提供了一种充电设备加速寿命试验方法及装置,加速寿命试验方法根据充电设备的设计寿命时间、可靠度和允许失效数的关系计算单个充电设备的常规试验时间;选取影响充电设备寿命的温度作为加速应力,计算温度加速因子的大小,根据温度加速因子和单个充电设备的常规试验时间计算单个充电设备的加速寿命试验时间;按照设定的温度变化曲线对充电设备进行循环试验直至达到加速寿命时间,判断充电设备是否失效。本发明的方法能够大幅度的缩短充电设备的寿命试验时间,提升了寿命试验效率,并提高了充电设备寿命检测的可靠性,确认了充电设备的寿命,为充电设备的设计提供了理论依据。
声明:
“充电设备加速寿命试验方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)