本发明涉及一种基于径向基网络算法获取集成电路成品率的方法,属于集成电路技术领域,该方法包括:根据集成电路工艺厂商提供的工艺参数,采用径向基网络算法,建立一个替代电路仿真的替代模型,将工艺参数作为替代模型的自变量,电路性能指标作为替代模型的函数值;根据最小范数方法,获取最易使集成电路失效的工艺浮动值;得到的替代模型和最易失效的工艺浮动值,进行统计采样,获取采样点和电路性能指标;根据所述采样点及其电路性能指标,通过统计学方法得到该集成电路的成品率。该方法可降低成品率获取过程中的电路仿真次数,减少分析集成电路成品率所用的时间,缩短集成电路设计周期,加快集成电路生产,降低集成电路的成本,提高经济价值。
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