本发明提供提供了电子系统的剩余寿命评估方法、装置和系统,其中,所述电子系统至少包括一个电子元器件,所述电子系统的剩余寿命评估方法包括如下步骤:S1,按照每个时间间隔采集所述电子系统的应力信息,并对一个时间段内的所述应力信息数据汇总以获得应力因素;S2,基于应力因素和失效率算法获得所述系统的每个元器件的失效率,从而计算系统的失效率;S3,基于系统失效率和系统平均无故障时间获得所述系统的可靠性寿命,以获得所述时间段内的系统累积损伤率;S4,基于所述系统的额定寿命或者疲劳寿命计算所述系统的剩余寿命。本发明可扩展性好,造价低,不仅能够实时预测电子系统的剩余寿命,还能够检测电子系统工作中的意外情况。
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