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配合光学显微镜使用的标记笔新设计

733   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:41
目前晶圆代工厂中对晶圆进行标记是人工操作的,而且是靠记忆来确定位置。因而会经常画错地方,甚至会将需要分析的结构弄脏,给后续的失效分析带来麻烦。针对这种情况,本发明提供了一种标记环的结构来节省标记时间并且避免标记错误。
声明:
“配合光学显微镜使用的标记笔新设计” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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失效分析
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