本申请公开了一种
芯片管理方法和系统,将晶圆中的多个管芯分别与其对应的身份信息关联,在晶圆测试过程采集晶圆中的多个管芯的第一测试数据,在芯片测试过程采集芯片的第二测试数据,芯片内封装有相应的所述管芯,最后根据封装在芯片内的管芯的身份信息将第二测试数据与第一测试数据整合,得到追溯数据库,在失效分析时可以根据待分析芯片的身份信息查找追溯数据库得到该芯片的测试数据,通过在芯片测试数据追溯中设计标记信息,有利于节省了数据追溯时间和追溯成本,提高数据追溯的效率。
声明:
“芯片管理方法和系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)