本发明公开一种航天电子产品的空间辐射可靠性评估方法,该方法包括故障物理分析、建立空间辐射相关故障信息矩阵并分类收集所述物理模型的参数、单粒子效应仿真、总剂量效应仿真、位移损伤效应仿真、以及考虑空间故障机理间的相互关系,分析单粒子效应、总剂量效应和位移损伤效应单独作用下的被测器件仿真寿命,获得被测器件在空间辐射环境效应共同作用下的失效寿命。本发明是从故障机理的角度,针对航天电子产品空间辐射相关的可靠性展开研究,提出一套基于仿真分析的评估航天电子产品空间辐射可靠性的方法,使设计者能够在设计阶段就对产品的空间辐射可靠性水平直观了解,从而为产品的设计改进提供参考依据。
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