本发明公开一种基于盐雾环境试验的印制电路板使用寿命评估方法,首先,通过将该印制电路板的失效模式与工作环境进行相关联,建立了基于盐雾试验的加速寿命预测模型,通过试验数据与Arrhenius加速寿命预测模型相结合的方法,绘制了温度、盐溶液浓度及盐雾沉降量等三个环境因子与试验样品腐蚀面积间的变化曲线,有效地预测了该印制电路板在盐雾环境服役条件下的服役寿命;克服了传统可靠性分析方法在分析小样本,失效机理复杂系统时无法精确建模的问题。其次,在装置的研制阶段,通过开展加速寿命试验,缩短试验时间,提高海上武器装备使用寿命验证水平,让使用中可能出现的问题在服役前得到充分暴露和解决,从而制定科学合理的维修决策,以节省维修费用,并保障战备的完好和任务的成功。
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