合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 电子产品在电压应力作用下的小样本试验寿命预测方法

电子产品在电压应力作用下的小样本试验寿命预测方法

635   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:35
本发明提供一种电子产品在电压应力作用下的小样本试验寿命预测方法,其包括以下步骤:S1对失效数据按照电压应力水平分组并从小到大重排;S2依照矩模型得到威布尔寿命分布形式;S3得到等效威布尔寿命数据;S4计算调协威布尔寿命分布;S5列出关注的信度并计算信度对应的分位值;S6得到各信度水平下电压应力‑寿命函数;S7得到选定电压应力水平下的威布尔寿命分位值;S8使用最小二乘模型得到选定电压应力水平下的寿命分布。本发明根据不确定理论通过分布参数的估计、电子产品寿命数据扩充,修正分布参数,最终得到电压应力‑寿命模型,解决了小样本情况造成的威布尔分布参数估计不准确问题,提高了寿命评估的准确性和稳定性。
声明:
“电子产品在电压应力作用下的小样本试验寿命预测方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记