合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> MRAM芯片及其自测试方法

MRAM芯片及其自测试方法

690   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:34
本发明提供一种MRAM芯片,包括一个或多个区域,区域包括多个存储阵列与一个备份阵列,备份阵列中的存储单元行用于替换MRAM芯片中包括失效或损坏的存储单元的存储单元字,存储单元字的宽度小于存储阵列的列的数目。本发明还提供一种MRAM芯片的自测试方法。本发明提供的MRAM芯片及其自测试方法,通过设置备份阵列,使用备份阵列中的存储单元行替换存储阵列与备份阵列中包括损坏的存储单元的存储单元字,存储单元字的宽度小于存储阵列的列的数目,从而更有效利用备份阵列中的存储单元,延长MRAM芯片的使用寿命。
声明:
“MRAM芯片及其自测试方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

2024退役新能源器件循环利用技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记