合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 失效分析技术

> 利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法

利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法

788   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:33
本发明提供了一种利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法,利用日照光源照射到样本容器上,所述样本容器附近设有可移动的相机,通过相机拍摄样本容器的外观及其内壁的影像,获得采样样品在样本容器中的高度,结合样本容器本身的尺寸结构,通过计算得到采样量。采用本发明的技术方案,利用日照光源照射样本容器顶端时,阳光会投射到容器的内壁,在内部表面形成光影,透过视觉就可根据产生刻度标记的长度和形状,从而判断样本在容器内的高度及采样量从而准确的计算得到采样量,采用这种方式所需要的设备除一般探测器本身因任务需求都已经配备的相机外,无需额外配备任何传感器,大大降低了失效的可能性,无需增加额外重量,可靠性高。
声明:
“利用日照光源测量地外天体样本取样量的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
失效分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届关键基础材料模拟、制备与评价技术交流会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记