一种IGBT剩余寿命预测和状态评估实现方法,通过老化试验平台采集IGBT模块的集电极‑发射极电压Vce的关断瞬态曲线,从中提取特征并滤波后通过深度自回归递归神经网络(Deep Autoregressive Recurrent Networks)进行曲线趋势预测,预测到的曲线超过阈值时判定IGBT失效,对应得到IGBT模块的老化程度和健康状态。本发明以IGBT开光瞬间的瞬态波形特征作为IGBT老化的指标。
声明:
“IGBT剩余寿命预测和状态评估实现方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)