本发明公开了一种嵌入式EEPROM的“读”测试基准建立方法,基于EEPROM标准Cell的读电流通过比例分割产生一组读基准电流,扫描比例分割参数的同时测试各基准电流配置下的EEPROM失效比例,间接测得EEPROM的读窗口;基于已得的读窗口数据,结合产品工艺可控参数及EEPROM的可靠性考核结果,得出最终的EEPROM“读”测试基准;以此保证成品品质及圆片制造的工艺冗余度,同时降低产品的生产成本。
声明:
“嵌入式EEPROM的“读”测试基准建立方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)