本发明公开了一种基于有限元仿真的IGBT状态监测方法,其包括以下步骤:S1、获取IGBT模块Vce,on的历史数据;S2、建立键合线退化过程的失效物理模型;S3、建立键合线退化过程的状态空间方程;S4、通过参数学习算法确定Vce,on修正方程的未知量;S5、状态估计。本发明揭示了IGBT模块Vce,on的增加与键合线退化的关系,建立了IGBT模块键合线退化的精确模型,利用基于粒子的边缘重采样移动算法估算出当前裂纹长度,从而进行状态估计。从建立模型到算法实现,不需要进行大量的功率循环试验,与传统状态监测方法相比,降低了时间成本和经济成本,减小了监测误差,提高了IGBT的可靠性。
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