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深N阱隔离测试结构

1058   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:33
本实用新型提供一种深N阱隔离测试结构,包括P型衬底及形成于其中的第一、第二深N阱,第一、第二N阱,第一、第二P阱;其中:所述第一、第二P阱的侧面靠下部分分别被所述第一、第二N阱所包围;所述第一、第二深N阱分别形成于所述第一、第二P阱下方,且边缘部分分别与所述第一、第二N阱连接;所述第一、第二P阱,第一、第二N阱分别通过相应的引出部与所述第一、第二、第三、第四测试焊盘连接。本实用新型通过引入N型重掺杂区域连接N阱,并增加用于测试两个深N阱区域之间一对N阱之间隔离效果的测试焊盘,避免了由于两块NW之间缺陷造成两个DNW区域之间的隔离失效被忽视的问题,从而能够更为全面地侦测两块深N阱之间区域的隔离效果。
声明:
“深N阱隔离测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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