本发明实施例提供一种设备寿命预测方法、装置及恒温加速试验系统,属于设备可靠性预测技术领域。设备寿命预测方法包括:获取设备中的各个电路板卡上的每个元器件对应于初始恒定温度的初始工作温度以及对应于第一恒定温度的第一工作温度;基于每个元器件的激活能、初始工作温度和第一工作温度,分别确定每个元器件的加速比;根据每个元器件的加速比和失效率,确定设备的加速比;以及根据从在第一恒定温度下开始对设备进行恒温加速试验至该设备中的任一电路板卡出现故障的试验时长和所确定的设备的加速比,预测设备的寿命。本发明实施例对设备寿命的预测更为精准可靠,并且无需试验大量样本,成本低,且适用性更强。
声明:
“设备寿命预测方法、装置及恒温加速试验系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)