本实用新型提供了一种存储
芯片测试电路装置和系统,电路装置包括:至少一个功能模块,设置于存储芯片内;信号倍频单元,设置于存储芯片内,信号倍频单元连接在功能模块和存储芯片的测试输入端之间,用于将测试设备发送的测试信号在存储芯片内部做倍频处理,以生成倍频信号输出至功能模块。各个功能模块接收了倍频信号,输出测试结果信号,根据测试结果信号判断此功能模块是否失效。无需测试设备提供倍频信号,有效降低测试成本。
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