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内存电压拉偏测试系统

864   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 09:00:25
本发明提出了一种内存电压拉偏测试系统,该内存电压拉偏测试系统包括:电源模块、降压转换器模块、PMU模块、内存模块,其中,降压转换器模块,分别与电源模块和内存模块连接,用于将电源模块的输入电压降压转换为第一电压,并且将第一电压输出至内存模块;PMU模块,与降压转换器模块连接,用于调节第一电压。本发明通过PMU模块调节电压转换器的输出电压,从而提高了电压拉偏的精度,也避免了人工重复修改反馈电阻造成的精度不高的问题,同时该测试也提高了内存测试的可靠性和稳定性测试,也避免后期服务器产品因电压问题导致内存失效的情况。
声明:
“内存电压拉偏测试系统” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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