随机存取内存(DRAM)的测试,已经广泛使用于内存模块的生产质量控制作业当中,其中较为先进且逐步导入至内存模块生产测试的项目为高温环境测试,其主要的目的是用来筛选出早期失效不良的制品,以确保产品使用的可靠度与耐受性。本发明公开了一种新的高温测试系统,可适用于内存模块的高温环境测试中,其具有低成本、易维护及结构简单等的特性,特别适用于大量生产的操作使用条件要求。
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